Guía Técnica

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4.2. Fiabilidad

La tasa de fallos de una fuente de alimentación en función del tiempo es similar a la de cualquier producto electrónico. Se pueden distinguir tres etapas tal como puede verse en la figura-22:
 
(A) Fallo prematuro o mortalidad infantil. En esta etapa de la vida del aparato es cuando la probabilidad de fallo es mayor. Ello es debido a que pueden existir algunas imperfecciones indetectables en los componentes utilizados. La manera de minimizar la repercusión de ello es realizando un rodaje o burn-in de todas las unidades antes de comercializarlas.
 
(B) Fallo aleatorio. Es la etapa dentro de la vida útil una vez superado el periodo de fallo prematuro. En este intervalo de tiempo la tasa de fallos es la mínima.
 
(C) Fallo por envejecimiento. Transcurrida la vida útil del aparato los componentes que tienen un envejecimiento más rápido empiezan a degradarse provocando un aumento de la tasa de fallos.
 
La tasa de fallos de una fuente de alimentación en función de la temperatura ambiente también tiene un comportamiento similar a la de cualquier producto electrónico. La forma más corriente de referirse a una predicción de fiabilidad es mediante el término MTBF (Mean Time Between Failure) expresado en horas.
 
Como se puede observar en la figura-23 el efecto que causa la temperatura sobre el MTBF es muy drástico, ya que tiene una dependencia exponencial con la temperatura, la cual se obtiene de la fórmula de Arrhenius. Como consecuencia de esto se obtiene que invertir recursos en disminuir unos pocos grados la temperatura del ambiente de la fuente de alimentación, mejorando la ventilación por ejemplo, puede tener como recompensa un notable aumento del MTBF y de la vida útil.

Figura 22

Figura 22

Figura 23

Figura 23